|
|
|
Index |
|
|
S |
|
G |
K |
FYZIKA
|
C |
|
G01 |
K |
MĚŘENÍ
;
ZKOUŠENÍ
|
U |
|
G01Q |
K |
POSTUPY NEBO ZAŘÍZENÍ SE SKENOVACÍ SONDOU
;
POUŽITÍ POSTUPŮ SE SKENOVACÍ SONDOU, např. MIKROSKOPIE SKENOVACÍ SONDOU (SPM)
[2010.01]
|
M |
|
G01Q 70/00 |
K |
Obecná hlediska sond pro SPM, jejich výroba nebo přístroje s nimi související, pokud nejsou zvlášť upraveny pro jedinou techniku SPM zahrnutou do skupiny
G01Q 60/00
[2010.01]
|
1 |
|
G01Q 70/02 |
K |
·
Držáky sond
[2010.01]
|
2 |
|
G01Q 70/04 |
K |
· ·
s kompenzací chyb vyvolaných teplotou nebo vibracemi
[2010.01]
|
1 |
|
G01Q 70/06 |
K |
·
Uspořádání špiček sond
[2010.01]
|
1 |
|
G01Q 70/08 |
K |
·
Vlastnosti sond
[2010.01]
|
2 |
|
G01Q 70/10 |
K |
· ·
Tvar nebo zkosení
[2010.01]
|
3 |
|
G01Q 70/12 |
K |
· · ·
Špičky z nanotrubic
[2010.01]
|
2 |
|
G01Q 70/14 |
K |
· ·
Konkrétní materiály
[2010.01]
|
1 |
|
G01Q 70/16 |
K |
·
Výroba sond
[2010.01]
|
2 |
|
G01Q 70/18 |
K |
· ·
Funkcionalizace
[2010.01]
|