Verze 2025.01
jazyk
      Index    
S   G K FYZIKA
C   G01 K MĚŘENÍ ; ZKOUŠENÍ
U   G01Q K POSTUPY NEBO ZAŘÍZENÍ SE SKENOVACÍ SONDOU ; POUŽITÍ POSTUPŮ SE SKENOVACÍ SONDOU, např. MIKROSKOPIE SKENOVACÍ SONDOU (SPM) [2010.01]
M   G01Q 70/00 K Obecná hlediska sond pro SPM, jejich výroba nebo přístroje s nimi související, pokud nejsou zvlášť upraveny pro jedinou techniku SPM zahrnutou do skupiny G01Q 60/00 [2010.01]
1   G01Q 70/02 K  ·   Držáky sond [2010.01]
2   G01Q 70/04 K  ·   ·   s kompenzací chyb vyvolaných teplotou nebo vibracemi [2010.01]
1   G01Q 70/06 K  ·   Uspořádání špiček sond [2010.01]
1   G01Q 70/08 K  ·   Vlastnosti sond [2010.01]
2   G01Q 70/10 K  ·   ·   Tvar nebo zkosení [2010.01]
3   G01Q 70/12 K  ·   ·   ·   Špičky z nanotrubic [2010.01]
2   G01Q 70/14 K  ·   ·   Konkrétní materiály [2010.01]
1   G01Q 70/16 K  ·   Výroba sond [2010.01]
2   G01Q 70/18 K  ·   ·   Funkcionalizace [2010.01]