| |
|
|
Index |
|
|
| S |
|
G |
K |
FYZIKA
|
| C |
|
G01 |
K |
MĚŘENÍ
;
ZKOUŠENÍ
|
| U |
|
G01Q |
K |
POSTUPY NEBO ZAŘÍZENÍ SE SKENOVACÍ SONDOU
;
POUŽITÍ POSTUPŮ SE SKENOVACÍ SONDOU, např. MIKROSKOPIE SKENOVACÍ SONDOU (SPM)
[2010.01]
|
| N |
|
G01Q |
|
Poznámky
V této podtřídě se použije pravidlo přednosti prvního místa, tj. na každé hierarchické úrovni se provádí zatřiďování na první vhodné místo, není-li uvedeno jinak.
|
| M |
|
G01Q 10/00 |
K |
Skenovací nebo polohovací zařízení, tj. zařízení pro aktivní řízení pohybu nebo polohy sondy
[2010.01]
|
| M |
|
G01Q 20/00 |
K |
Monitorování pohybu nebo polohy sondy
[2010.01]
|
| M |
|
G01Q 30/00 |
K |
Pomocné prostředky sloužící k napomáhání nebo zlepšení technik nebo zařízení se skenovacími sondami, např. zařízení pro zobrazování nebo zpracování dat
[2010.01]
|
| M |
|
G01Q 40/00 |
K |
Kalibrace, např. sond
[2010.01]
|
| M |
|
G01Q 60/00 |
K |
Zvláštní druhy SPM (mikroskopie se skenovací sondou) nebo zařízení pro ně
;
Jejich nezbytné součástky
[2010.01]
|
| M |
|
G01Q 70/00 |
K |
Obecná hlediska sond pro SPM, jejich výroba nebo přístroje s nimi související, pokud nejsou zvlášť upraveny pro jedinou techniku SPM zahrnutou do skupiny
G01Q 60/00
[2010.01]
|
| M |
|
G01Q 80/00 |
K |
Použití technik skenovací sondy, jiná než SPM
(
výroba nebo úprava mikrostruktur
B81C
;
výroba nebo úprava nanostruktur
B82B 3/00
;
záznam nebo reprodukce informace s použitím interakce blízkého pole
G11B 9/12
,
G11B 11/24
nebo
G11B 13/08
)
[2010.01]
|
| M |
|
G01Q 90/00 |
K |
Techniky nebo zařízení se skenovací sondou nezahrnuté jinde
[2010.01]
|