Verze 2025.01
jazyk
      Index    
S   G K FYZIKA
C   G01 K MĚŘENÍ ; ZKOUŠENÍ
U   G01Q K POSTUPY NEBO ZAŘÍZENÍ SE SKENOVACÍ SONDOU ; POUŽITÍ POSTUPŮ SE SKENOVACÍ SONDOU, např. MIKROSKOPIE SKENOVACÍ SONDOU (SPM) [2010.01]
M   G01Q 80/00 K Použití technik skenovací sondy, jiná než SPM ( výroba nebo úprava mikrostruktur B81C ; výroba nebo úprava nanostruktur B82B 3/00 ; záznam nebo reprodukce informace s použitím interakce blízkého pole G11B 9/12 , G11B 11/24 nebo G11B 13/08 ) [2010.01]