| |
|
|
Index |
|
|
| S |
|
G |
K |
FYZIKA
|
| C |
|
G01 |
K |
MĚŘENÍ
;
ZKOUŠENÍ
|
| U |
|
G01Q |
K |
POSTUPY NEBO ZAŘÍZENÍ SE SKENOVACÍ SONDOU
;
POUŽITÍ POSTUPŮ SE SKENOVACÍ SONDOU, např. MIKROSKOPIE SKENOVACÍ SONDOU (SPM)
[2010.01]
|
| M |
|
G01Q 60/00 |
K |
Zvláštní druhy SPM (mikroskopie se skenovací sondou) nebo zařízení pro ně
;
Jejich nezbytné součástky
[2010.01]
|
| 1 |
|
G01Q 60/02 |
K |
·
Vícenásobné SPM, tj. zahrnující dva nebo více postupů SPM
[2010.01]
|
| 2 |
|
G01Q 60/04 |
K |
· ·
STM (skenovací tunelová mikroskopie) spojená s AFM (mikroskopie atomárních sil)
[2010.01]
|
| 2 |
|
G01Q 60/06 |
K |
· ·
SNOM (optická skenovací mikroskopie v blízkém poli) spojená s AFM (mikroskopie atomárních sil)
[2010.01]
|
| 2 |
|
G01Q 60/08 |
K |
· ·
MFM (mikroskopie magnetických sil) spojená s AFM (mikroskopie atomárních sil)
[2010.01]
|
| 1 |
|
G01Q 60/10 |
K |
·
STM (skenovací tunelová mikroskopie) nebo zařízení pro ni, např. sondy pro STM
[2010.01]
|
| 2 |
|
G01Q 60/12 |
K |
· ·
STS (skenovací tunelová spektroskopie)
[2010.01]
|
| 2 |
|
G01Q 60/14 |
K |
· ·
STP (skenovací tunelová potenciometrie)
[2010.01]
|
| 2 |
|
G01Q 60/16 |
K |
· ·
Sondy, jejich výroba nebo s nimi související nástroje, např. držáky
[2010.01]
|
| 1 |
|
G01Q 60/18 |
K |
·
SNOM (optická skenovací mikroskopie v blízkém poli) nebo zařízení pro ni, např. sondy pro SNOM
[2010.01]
|
| 2 |
|
G01Q 60/20 |
K |
· ·
Fluorescence
[2010.01]
|
| 2 |
|
G01Q 60/22 |
K |
· ·
Sondy, jejich výroba nebo s nimi související nástroje, např. držáky
[2010.01]
|
| 1 |
|
G01Q 60/24 |
K |
·
AFM (mikroskopie atomárních sil) nebo zařízení pro ni, např. sondy pro AFM
[2010.01]
|
| 2 |
|
G01Q 60/26 |
K |
· ·
Mikroskopie třecích sil
[2010.01]
|
| 2 |
|
G01Q 60/28 |
K |
· ·
Mikroskopie adhezních sil
[2010.01]
|
| 2 |
|
G01Q 60/30 |
K |
· ·
Skenovací potenciálová mikroskopie
[2010.01]
|
| 2 |
|
G01Q 60/32 |
K |
· ·
AC režim
[2010.01]
|
| 3 |
|
G01Q 60/34 |
K |
· · ·
Poklepový (tapping) režim
[2010.01]
|
| 2 |
|
G01Q 60/36 |
K |
· ·
DC režim
[2010.01]
|
| 2 |
|
G01Q 60/38 |
K |
· ·
Sondy, jejich výroba nebo s nimi související nástroje, např. držáky
[2010.01]
|
| 3 |
|
G01Q 60/40 |
K |
· · ·
Vodivé sondy
[2010.01]
|
| 3 |
|
G01Q 60/42 |
K |
· · ·
Funkcionalizace
[2010.01]
|
| 1 |
|
G01Q 60/44 |
K |
·
SICM (skenovací mikroskopie iontovou sondou) nebo zařízení pro ni, např. sondy pro SICM
[2010.01]
|
| 1 |
|
G01Q 60/46 |
K |
·
SCM (skenovací kapacitní mikroskopie) nebo zařízení pro ni, např. sondy pro SCM
[2010.01]
|
| 2 |
|
G01Q 60/48 |
K |
· ·
Sondy, jejich výroba nebo s nimi související nástroje, např. držáky
[2010.01]
|
| 1 |
|
G01Q 60/50 |
K |
·
MFM (mikroskopie magnetických sil) nebo zařízení pro ni, např. sondy pro MFM
[2010.01]
|
| 2 |
|
G01Q 60/52 |
K |
· ·
Rezonance
[2010.01]
|
| 2 |
|
G01Q 60/54 |
K |
· ·
Sondy, jejich výroba nebo s nimi související nástroje, např. držáky
[2010.01]
|
| 3 |
|
G01Q 60/56 |
K |
· · ·
Sondy s magnetickým povlakem
[2010.01]
|
| 1 |
|
G01Q 60/58 |
K |
·
SThM (skenovací termální mikroskopie) nebo zařízení pro ni, např. sondy pro SThM
[2010.01]
|
| 1 |
|
G01Q 60/60 |
K |
·
SECM (skenovací elektrochemická mikroskopie) nebo zařízení pro ni, např. sondy pro SECM
[2010.01]
|