Verze 2025.01
jazyk
      Index    
S   H K ELEKTŘINA
C   H01 K ELEKTROTECHNICKÉ SOUČÁSTI
U   H01J K ELEKTRICKÉ VÝBOJKY NEBO OSVĚTLOVACÍ VÝBOJKY ( jiskřiště H01T ; obloukové lampy s vyhořovacími elektrodami H05B ; urychlovače částic H05H )
M   H01J 37/00 K Výbojky s prostředky pro zavedení předmětů nebo materiálů, které mají být podrobeny výboji, např. pro jejich zkoušení nebo opracování ( H01J 33/00 , H01J 40/00 , H01J 41/00 , H01J 47/00 , H01J 49/00 mají přednost ) [1,2,5,8]
1   H01J 37/02 K  ·   Součásti nebo podrobnosti [1,8]
2   H01J 37/04 K  ·   ·   Uspořádání elektrod a přidružených částí na výrobu nebo ovládání výboje, např. elektronová optická zařízení, iontooptická zařízení [1,8]
3   H01J 37/05 K  ·   ·   ·   Elektronová optická zařízení nebo iontooptická zařízení pro oddělování elektronů nebo iontů podle jejich energie ( oddělovací elektronky H01J 49/00 ) [3,8]
3   H01J 37/06 K  ·   ·   ·   Elektronové zdroje ; Elektronové trysky [1,8]
4   H01J 37/063 K  ·   ·   ·   ·   Geometrické uspořádání elektrod pro svazkování paprsků [3,8]
4   H01J 37/065 K  ·   ·   ·   ·   Konstrukce trysek nebo jejich částí ( H01J 37/067 - H01J 37/077 mají přednost ) [3,8]
4   H01J 37/067 K  ·   ·   ·   ·   Náhradní součásti trysek ; Vzájemné nastavení elektrod ( H01J 37/073 - H01J 37/077 mají přednost ; vakuové uzávěry H01J 37/18 ) [3,8]
4   H01J 37/07 K  ·   ·   ·   ·   Odstraňování škodlivých účinků způsobovaných tepelným působením nebo elektrickými nebo magnetickými poli ( H01J 37/073 - H01J 37/077 mají přednost ) [3,8]
4   H01J 37/073 K  ·   ·   ·   ·   Elektronové trysky používající emise pole, fotoemise nebo sekundární emise [3,8]
4   H01J 37/075 K  ·   ·   ·   ·   Elektronové trysky používající termionické emise z katod žhavených bombardováním částic nebo ozařováním, např. laserem [3,8]
4   H01J 37/077 K  ·   ·   ·   ·   Elektronové trysky používající výboje v plynech nebo parách jako zdrojů elektronů [3,8]
3   H01J 37/08 K  ·   ·   ·   Iontové zdroje ; Iontové trysky [1,8]
3   H01J 37/09 K  ·   ·   ·   Clony ; Stínění sdružená se zařízeními elektronové nebo iontové optiky ; Kompensace rušivých polí [3,8]
3   H01J 37/10 K  ·   ·   ·   Čočky [1,8]
4   H01J 37/12 K  ·   ·   ·   ·   elektrostatické [1,8]
4   H01J 37/14 K  ·   ·   ·   ·   magnetické [1,8]
5   H01J 37/141 K  ·   ·   ·   ·   ·   Elektromagnetické čočky [3,8]
5   H01J 37/143 K  ·   ·   ·   ·   ·   Permanentní magnetické čočky [3,8]
4   H01J 37/145 K  ·   ·   ·   ·   Kombinace elektrostatických a magnetických čoček [3,8]
3   H01J 37/147 K  ·   ·   ·   Zařízení pro nastavení nebo vychýlení výboje podél vytčeného směru ( čočky H01J 37/10 ) [2,8]
4   H01J 37/15 K  ·   ·   ·   ·   Vnější mechanické seřízení elektrono- nebo iontooptických částí ( H01J 37/067 , H01J 37/20 mají přednost ) [3,8]
3   H01J 37/153 K  ·   ·   ·   Elektronoptická nebo iontooptická zařízení pro korekci zkreslení obrazu, např. stigmátory [2,8]
2   H01J 37/16 K  ·   ·   Baňky ; Nádoby [1,8]
2   H01J 37/18 K  ·   ·   Vakuové uzávěry [1,8]
2   H01J 37/20 K  ·   ·   Prostředky pro upevnění nebo nastavení předmětů nebo materiálů ; Prostředky pro seřizování clon nebo čoček spojených s upevňovacím prostředkem [1,8]
2   H01J 37/21 K  ·   ·   Zařízení pro nastavení ohniska [2,8]
2   H01J 37/22 K  ·   ·   Optická nebo fotografická zařízení spojená s elektronkou [1,8]
2   H01J 37/24 K  ·   ·   Zapojení obvodů, která nejsou upravena pro zvláštní použití elektronky, nezahrnutá jinde [1,8]
2   H01J 37/244 K  ·   ·   Detektory ; Sdružené součásti nebo jejich obvody [3,8]
2   H01J 37/248 K  ·   ·   Součásti sdružené se zdroji vysokého napětí [3,8]
1   H01J 37/252 K  ·   Elektronky pro kapkovou analýzu elektronovými nebo iontovými paprsky ; Mikroanalyzátory [3,8]
2   H01J 37/256 K  ·   ·   používající rozkladových paprsků [3,8]
1   H01J 37/26 K  ·   Elektronové nebo iontové mikroskopy ; Elektronové nebo iontové elektronky s ohybem (difrakcí) elektronů nebo iontů [1,2,8]
2   H01J 37/27 K  ·   ·   Stínová mikroskopie [3,8]
2   H01J 37/28 K  ·   ·   se skenovacími paprsky [1,8]
2   H01J 37/285 K  ·   ·   Emisní mikroskopy, např. mikroskop s emisí pole [2,8]
2   H01J 37/29 K  ·   ·   Reflexní mikroskopy [2,8]
2   H01J 37/295 K  ·   ·   Elektronové nebo iontové elektronky s ohybem (difrakcí) elektronů nebo iontů [2,8]
1   H01J 37/30 K  ·   Elektronky s elektronovým nebo iontovým svazkem pro místně omezené opracovávání předmětů [1,8]
2   H01J 37/301 K  ·   ·   Prostředky dovolující, aby svazky procházely mezi oblastmi mající rozdílný tlak [3,8]
2   H01J 37/302 K  ·   ·   Řízení elektronek externí informací, např. programové řízení ( H01J 37/304 má přednost ) [3,8]
2   H01J 37/304 K  ·   ·   Řízení elektronek informacemi přicházejícími od objektů, např. korekční signály [3,8]
2   H01J 37/305 K  ·   ·   pro odlévání, tavení, napařování nebo leptání [2,8]
2   H01J 37/31 K  ·   ·   pro řezání nebo vrtání [2,8]
2   H01J 37/315 K  ·   ·   pro svařování [2,8]
2   H01J 37/317 K  ·   ·   pro změnu vlastností předmětů nebo pro nanášení tenkých vrstev na tyto, např. iontová implantace ( H01J 37/36 má přednost ) [3,8]
1   H01J 37/32 K  ·   Plynem plněné výbojky ( ohřívání výbojem H05B ) [1,8]
2   H01J 37/34 K  ·   ·   pracující s katodickým naprašováním ( H01J 37/36 má přednost ) [1,3,8]
2   H01J 37/36 K  ·   ·   pro čištění povrchů při pokovování ionty materiálů zaváděných do výboje, např. zavedené vypařováním [3,8]