| |
|
|
Index |
|
|
| S |
|
G |
K |
FYZIKA
|
| C |
|
G11 |
K |
UCHOVÁVÁNÍ INFORMACÍ
|
| U |
|
G11C |
K |
STATICKÉ PAMĚTI
(
polovodičová paměťová zařízení
H10B
)
|
| M |
|
G11C 29/00 |
K |
Kontrola pamětí na správnou činnost
;
Zkoušení pamětí během pohotovostního režimu nebo odpojení
[1,8]
|
| 1 |
|
G11C 29/02 |
K |
·
Zjišťování nebo lokalizace vadných pomocných obvodů, např. vadných obnovovacích čítačů
[8]
|
| 1 |
|
G11C 29/04 |
K |
·
Zjišťování nebo umístění vadných paměťových prvků
[8]
|
| 2 |
|
G11C 29/06 |
K |
· ·
Zrychlené zkoušení
[8]
|
| 2 |
|
G11C 29/08 |
K |
· ·
Funkční zkoušení, např. zkoušení během obnovy, samočinné zkoušení při zapnutí (POST) nebo distribuované zkoušení
[8]
|
| 3 |
|
G11C 29/10 |
K |
· · ·
Zkušební algoritmy, např. algoritmy monitorování podle paměti (MScan)
;
Zkušební obrazce, např. šachovnicové obrazce
[8]
|
| 3 |
|
G11C 29/12 |
K |
· · ·
Vestavěná zkušební zařízení, např. vestavěné diagnostické prostředky (BIST)
[8]
|
| 4 |
|
G11C 29/14 |
K |
· · · ·
Zavedení řídicí logiky, např. dekodéry zkušebního režimu
[8]
|
| 5 |
|
G11C 29/16 |
K |
· · · · ·
použití mikroprogramovaných jednotek, např. stavové stroje
[8]
|
| 4 |
|
G11C 29/18 |
K |
· · · ·
zařízení k vytváření adresy
;
Zařízení pro přístup k pamětím, např. podrobnosti k adresování obvodů
[8]
|
| 5 |
|
G11C 29/20 |
K |
· · · · ·
používající čítače nebo LFSR ("linear-feedback shift register")
[8]
|
| 5 |
|
G11C 29/22 |
K |
· · · · ·
Přístup k sériovým pamětím
[8]
|
| 5 |
|
G11C 29/24 |
K |
· · · · ·
Přístup k zvláštním buňkám, např. maketovým buňkám nebo nadbytečným buňkám
[8]
|
| 5 |
|
G11C 29/26 |
K |
· · · · ·
přístup k vícenásobným polím
(
G11C 29/24
má přednost
)
[8]
|
| 6 |
|
G11C 29/28 |
K |
· · · · · ·
Závislá vícenásobná pole, např. multi-bitová pole
[8]
|
| 5 |
|
G11C 29/30 |
K |
· · · · ·
Přistupování k jednotlivým polím
[8]
|
| 6 |
|
G11C 29/32 |
K |
· · · · · ·
Sériový přístup
;
testování skenu
[8]
|
| 6 |
|
G11C 29/34 |
K |
· · · · · ·
Přistupování k vícero bitům současně
[8]
|
| 4 |
|
G11C 29/36 |
K |
· · · ·
Zařízení k vytváření dat, např. invertory dat
[8]
|
| 4 |
|
G11C 29/38 |
K |
· · · ·
Zařízení pro ověřování odezvy
[8]
|
| 5 |
|
G11C 29/40 |
K |
· · · · ·
použití kompresních technik
[8]
|
| 5 |
|
G11C 29/42 |
K |
· · · · ·
používající kódy pro opravu chyb (ECC) nebo kontrolu parity
[8]
|
| 4 |
|
G11C 29/44 |
K |
· · · ·
Indikace nebo identifikace chyb, např. pro opravu
[8]
|
| 4 |
|
G11C 29/46 |
K |
· · · ·
Logika spouště testu
[8]
|
| 3 |
|
G11C 29/48 |
K |
· · ·
Zařízení ve statických pamětích zvlášť upravené pro zkoušení pomocí prostředků vně paměti, např. použití přímého přístupu do paměti (DMA) nebo použití cest pomocného přístupu
[8]
|
| 2 |
|
G11C 29/50 |
K |
· ·
Okrajové zkoušení, např. zkoušení rychlého chodu, napětí nebo proudu
[8]
|
| 1 |
|
G11C 29/52 |
K |
·
Ochrana obsahu paměti
;
Zjišťování chyb v obsahu paměti
[8]
|
| 1 |
|
G11C 29/54 |
K |
·
Uspořádání pro navrhování zkušebních obvodů, např. návrh zkušebních nástrojů (DFT)
[8]
|
| 1 |
|
G11C 29/56 |
K |
·
Externí zkušební zařízení pro statické paměti, např. automatické zkušební zařízení (ATE)
;
Rozhraní pro něj
[8]
|