Verze 2025.01
jazyk
      Index    
S   G K FYZIKA
C   G01 K MĚŘENÍ ; ZKOUŠENÍ
U   G01B K MĚŘENÍ DÉLKY, TLOUŠŤKY NEBO PODOBNÝCH LINEÁRNÍCH ROZMĚRŮ ; MĚŘENÍ ÚHLŮ ; MĚŘENÍ PLOCH ; MĚŘENÍ NEPRAVIDELNOSTÍ POVRCHŮ NEBO OBRYSŮ
M   G01B 15/00 K Měřicí zařízení vyznačená použitím elektromagnetických vln nebo částicového záření, např. použitím mikrovln, rentgenového záření, gama záření nebo elektronů ( vyznačená použitím optických technik G01B 9/00 , G01B 11/00 ) [1,4,8]
1   G01B 15/02 K  ·   pro měření tloušťky [1,8]
1   G01B 15/04 K  ·   pro měření obrysů nebo zakřivení [1,8]
1   G01B 15/06 K  ·   pro měření deformace v pevné látce [1,8]
1   G01B 15/08 K  ·   pro měření nerovnosti nebo nepravidelnosti povrchů [6,8]